JIB-4000PLUS - это система фрезерования и формирования изображений с фокусированным ионным пучком (однолучевая система FIB), оснащенная высокопроизводительной ионно-оптической колонной. Ускоренный пучок ионов Ga (галлия) фокусируется на образце, что позволяет наблюдать SIM-изображение поверхности образца, фрезеровать и осаждать такие материалы, как углерод или вольфрам. Система также позволяет подготовить тонкопленочный образец для получения ТЭМ-изображений и образец поперечного сечения для наблюдения внутренней части образца.
Кроме того, JIB-4000PLUS может быть оснащен функцией 3D наблюдения и функцией автоматической подготовки образцов для ТЭМ; таким образом, система удовлетворяет разнообразные потребности в подготовке образцов.

Особенности
Высокомощная FIB-колонна
JIB-4000PLUS оснащен высокомощной FIB-колонной с максимальным током ионного пучка 60 нА. Кроме того, система может увеличить ток пучка до 90 нА (опция) для сокращения времени подготовки образцов и расширения зоны подготовки образцов. JIB-4000PLUS позволяет за короткое время подготовить поперечное сечение диаметром более 100 мкм.

Удобный для пользователя FIB
JIB-4000PLUS обеспечивает превосходную работоспособность высокомощной FIB-колонны. Концепция дизайна системы - удобство для пользователя, внешний вид, а также графический интерфейс пользователя разработаны для простого управления системой даже для начинающих пользователей. Компактность системы, самая компактная в отрасли, позволяет достичь небольшой площади для более широкого выбора места установки.