Total Color F+, программное обеспечение для спектрофотометрических измерений, анализирует и моделирует произведенные в вакууме оптические тонкие пленки для проверки качества AR (антирефлексивных) покрытий на предприятии.

Мощный инструмент для повышения эффективности AR-покрытий
Total Color F+ оснащен простым в использовании интерфейсом, который упрощает управление измерениями тонких пленок. Простота проведения регулярных проверок качества и составления статистических отчетов, которые помогают сократить время установки покрытий, поддерживать оборудование в отличном состоянии и обеспечить высочайшее качество покрытия.

Простое в использовании программное обеспечение, позволяющее считывать данные непосредственно с любого спектрофотометра
Снимает высокоточные абсолютные измерения отражения и передачи
Преобразование абсолютных измерений в координаты CIELAB для точного определения цвета
Рассчитывает показатель преломления, физическую толщину и коэффициент оснастки отдельных слоев
Изменение и создание спецификаций для каждого покрытия с помощью редактора списка покрытий
Ручное моделирование слоев покрытия

Системные требования:
- ПК с операционной системой Microsoft Windows 7, Windows 10 32/64бит.
Последовательный порт RS-232 (совместимый с UART 16550) для подключения Perkin Elmer
Порт USB для UV* соединения MS-400-C*/MS-400-C
привод CD-ROM (для установки)
USB-порт для аппаратного ключа программной защиты
Принтер

Поддерживаемые спектрофотометры -
МС-400-К*, МС-400-К-В*
Перкин Элмер Лямбда 12, 20 и 25
* Волоконно-оптические портативные приборы