Прибор для контроля для полупроводников
Прибор для контроля для полупроводников
Производитель:
Farley Laserlab
Артикул:2552537
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
На предприятиях по производству сырья и на предприятиях по производству полупроводниковых пластин, входящих в цепочку полупроводниковой промышленности, независимо разработанная оптическая система обнаружения светлого и темного поля используется для обнаружения дефектов внешнего вида полупроводникового сырья, эпитаксиальных пластин и пластин с рисунком.
Преимущества продукции:
Применимо к различным пластинам
Подходит для 4-8-дюймовых пластин, подложек, эпитаксиальных пластин и пластин с рисунком
Может обнаруживать различные дефекты
Обнаружение частиц, ям, неровностей, царапин, пятен, трещин и других дефектов
Высокое разрешение
Разрешение системы: 1-10 мкм
Быстрая скорость обнаружения
Вафля без рисунка: 180 секунд / пластина, если количество дефектов менее 200
Преимущества продукции:
Применимо к различным пластинам
Подходит для 4-8-дюймовых пластин, подложек, эпитаксиальных пластин и пластин с рисунком
Может обнаруживать различные дефекты
Обнаружение частиц, ям, неровностей, царапин, пятен, трещин и других дефектов
Высокое разрешение
Разрешение системы: 1-10 мкм
Быстрая скорость обнаружения
Вафля без рисунка: 180 секунд / пластина, если количество дефектов менее 200
Характеристики
| Применение | для полупроводников |
Так же смотрят
Артикул:
Все товары этого бренда
*Цена по запросу
Артикул:
Все товары этого бренда
*Цена по запросу
