Программное обеспечение для измерений HitachiMap 3D

Программное обеспечение для измерений HitachiMap 3D

Производитель: Hitachi High-Tech Europe GmbH
Артикул:2073165
Hitachi High-Tech Europe GmbH
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
Трехмерные модели позволяют измерять высоту

Трехмерная модель может быть создана без наклона и выравнивания образца с помощью 4-сегментного детектора обратно рассеянных электронов.

Функция импорта: Функция автоматического выбора и считывания данных четырехэлементного изображения
Производительность измерений: Точность глубины менее ±20% (справочно)Производительность измерения зависит от точности калибровки, состояния типа образца, режима наблюдения и условий наблюдения
Диапазон определяемых углов ±60° (эталонный)
TM4000 ±50° (справочно)
Функция измерения: Отображение профиля сечения, извлеченного между любыми точками на трехмерном изображении
Измерение расстояния X и Y, длины и угла между двумя точками, площади поверхности и объема
Расстояние X, Y и Z, длина и многие другие измерения между двумя точками, указанными на профиле сечения
Простое измерение шероховатости профиля и шероховатости поверхности
Смещение базовой линии (прямая, кривая), выравнивание и многократное смещение
Поверхность резания, цветная контурная линия, вид с высоты птичьего полета и псевдоцветной дисплей
Функции макета, шаблона и композиции изображения из нескольких изображений
Функция трехмерного отображения: Вращение, увеличение и множественный процесс рендерингаФункция записи анимации на экране наблюдения
Функция вывода: Отчет, Изображение: RDF, RTF, PNG, JPG, GIF, TIF, BMP, EMF
Трехмерное изображение/фильм: SUR, 3MF, STL, WRL, TXT, X3D/WMV, AVI
Характеристики
Место применения промышленное, для лабораторий, для метрологии, для автомобилестроения, для микроскопа, SEM
Рабочая система 32/64-битная система Windows
Тип 3D
Функция для измерений, для визуализации
Так же смотрят