Программное обеспечение для анализа Waveline Map 3D позволяет получать конкретные данные о профиле и поверхности заготовок - в дополнение к измерению шероховатости

Измерительные системы Waveline от Jenoptik могут использоваться для измерения шероховатости или контура. Мы также предлагаем системы, сочетающие обе эти функции. Измерительные системы Waveline T8000, Surfscan и Nanoscan Jenoptik могут быть дополнены программным обеспечением для 3D-анализа топографии. Программное обеспечение Waveline Map позволяет отображать текстуру поверхности деталей в виде графика для оценки.

Waveline Map имеет интуитивно понятный дизайн и проста в управлении. Измеренные данные, например, могут быть предварительно обработаны в отношении выравнивания, фильтрации и удаления форм. При изменении этапов оценки выполняются автоматические пересчеты. Система предоставляет широкие возможности метрологической и научной фильтрации.

Программное обеспечение для 3D-анализа доступно в трех версиях: Basic, Expert и Premium. Версии Expert и Premium соответствуют стандарту ISO/TS 25178 для 3D-параметров.

В дополнение к программному обеспечению для топографических измерений также необходим Y-образный позиционный стол. Это облегчает необходимое перемещение заготовки. Столы могут удерживать детали весом до 30 кг и работают с точностью направляющих около 5 мкм.
Преимущества

- Гибкость: При необходимости могут использоваться на измерительных станциях для измерения шероховатости
- Простота: Интуитивно понятное программное обеспечение просто в использовании
- Быстрота: Автоматические пересчеты после изменения этапов оценки
- Модульный: Три версии, основанные друг на друге

Приложения
- Исследования и разработки: Трибологические исследования для оптимизации функций поверхности