ГлавнаяКаталогПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ МАШИНЫДРУГИЕ ПРОМЫШЛЕННЫЕ СТАНКИПроизводственные машины для электроникиОптический микроскоп Eclipse LV100ND

Оптический микроскоп Eclipse LV100ND

Производитель: Nikon Metrology

Артикул:1076043

*Цена по запросу

Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание

Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации и идеально подходят для контроля материалов во многих промышленных приложениях.

Модульные моторизованные и ручные вертикальные микроскопы
Превосходная оптика Nikon CFI60-2 обеспечивает превосходное изображение как для окуляров, так и для цифровых камер Nikon с программным обеспечением для анализа. Универсальная конструкция микроскопа позволяет совмещать на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов.

Nikon ECLIPSE LV100NDA и LV100ND
Эти микроскопы с эпископическим и диаскопическим освещением предназначены для контроля промышленных материалов и компонентов, а также для исследований и разработок.

Оптическая серия Nikon CFI60-2
Инновационная конструкция Nikon позволяет использовать четкие методы получения изображений, включая высококонтрастные, яркопольные, темнопольные, поляризационные (POL), дифференциальный интерференционный контраст (DIC) и двухлучевую интерферометрию оптического контраста.

Камеры Nikon Digital Sight
Все камеры Nikon Digital Sight эффективно фиксируют изображения образца и передают их в программное обеспечение для обработки изображений пакета NIS-Elements вместе с данными микроскопа об используемом объективе, настройке увеличения и интенсивности света.

Характеристики

Вес	9,5 kg (20,9 lb)
Высота	506 mm (19,9 in)
Головка микроскопа	бинокулярный, тринокулярный
Длина	362 mm (14,3 in)
Другие характеристики	эргономичный, с цифровой камерой, высокое разрешение, высокой точности, 3-осный, для полированных образцов, механизированный, низкая температура, со значительным увеличением, автоматизированный, для контроля оптического волокна, с контролем интенсивности освещения, сканирующее акустическое устройство, со специализированным освещением, с переменной температурой, USB, модульный, для захвата изображений, для интеграции с микроскопом и профилометром, для определения асбеста, для полупроводниковых пластин, с большим рабочим расстоянием, для топографии, высококонтрастный, высокого разрешения, со скользящей пластиной, для обработки изображений, с интерферометром белого света, режим реального времени, экономичный, для нанотехнологии, для плоских проб, для полупроводника, простая установка
Конфигурация	настольный
Метод наблюдения	со светлым фоном, флуоресцентный, фазоконтрастный, темного поля, поляризованный, инфракрасный, с дифференциальной интерференциальной контрастностью
Тип	оптический
Ширина	251 mm (9,9 in)
Эргономика	прямой
Применение	для лабораторий, для измерений, для контроля, промышленный, металлографический, для испытания материалов, медицинский, для контроля качества, для осмотра неметаллических включений, для бесконтактных измерений по 3-м осям, для измерений тонкослойных покрытий, многоцелевой, для контроля полупроводниковых пластин на линии, для измерения глубины
Источник света	со светодиодным освещением, с коаксиальной подсветкой