Система контроля для полупроводниковой пластины GWI

Система контроля для полупроводниковой пластины GWI

Производитель: EVT Eye Vision Technology GmbH
Артикул:1983875
EVT Eye Vision Technology GmbH
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
Система GWI была создана для обнаружения дефектов стеклянных пластин на ранних стадиях производственного цикла. Система основана на интеллектуальной камере с высоким разрешением для обеспечения требуемой точности обнаружения дефектов.

Полная оценка пластины производится с помощью интеллектуальной камеры. Снимок стеклянной пластины делается и обрабатывается непосредственно в камере. Полученные данные и изображения передаются в ПЛК.

Существует также возможность подключения дисплея к камере для просмотра результатов на экране.

Для выполнения процесса оценки доступны Ethernet, RS232 и подключение входов/выходов питания. Power I/O содержит также интерфейс RS232.

Система GWI обнаруживает поверхностные ошибки стеклянных пластин, такие как царапины, частицы и ошибки подложки.
Характеристики
Тип для стеклянной поверхности
Применение для полупроводниковой пластины
Вы смотрели
Так же смотрят