ГлавнаяКаталогМЕТРОЛОГИЯ - ЛАБОРАТОРНОЕ ДЕЛОПРОВЕРКА И НАБЛЮДЕНИЕСистемы контроляСистема контроля для обнаружения дефектов поверхностей MV-MP-Y

Система контроля для обнаружения дефектов поверхностей MV-MP-Y

Производитель: Estes Engineering Pte, Ltd

Артикул:2463067

*Цена по запросу

Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание

На линии печатных листов поверхности дефекта зрения видения инспекции оборудования используется для осмотра поверхностных дефектов печатных листов, как опечатки, разница в цвете, чернила рисунок, пятно и т.д..
Введение оборудования:

On line печатный лист поверхности дефекта видения инспекции оборудование используется для осмотра поверхности дефектов печатных листов, как опечатки, разница в цвете, рисование краской, пятно и т.д..

Характеристики

Технология	с камерой
Тип	для обнаружения дефектов поверхностей
Применение	для отпечатанных упаковок