Оптическая система контроля reflectCONTROL Compact

Оптическая система контроля reflectCONTROL Compact

Производитель: MICRO-EPSILON
Артикул:1695506
MICRO-EPSILON
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
На отражающие поверхности накладываются ограничения на традиционные системы обработки изображений. Для этих типов поверхностей специально разработана система отражения отражения CONTROL Compact компании Micro-Epsilon.

Во многих областях предъявляются все более высокие требования к качеству и внешнему виду поверхности. Поэтому сенсорные экраны смартфонов, приборы и органы управления в автомобилях должны быть защищены от повреждений. Осмотр этих деталей часто проводится посредством визуального осмотра, а это означает, что во многих случаях результаты неясны.
Усталость или настроение инспектора в дневное время может привести к колебаниям результатов проверки. В частности, отражающие поверхности создают трудности для ручного и автоматизированного контроля поверхностей. Затем можно сделать важные выводы для улучшения процесса

Полностью интегрированная система доступна в двух версиях, каждая из которых имеет свои измерительные поля. Версия 2D распознает дефекты отражающих поверхностей. Кроме того, 3D версия позволяет измерять отражающие поверхности с точностью до субмикрометра. Это устройство также используется в отдельных операциях (например, в лабораториях), а также непосредственно на производственных линиях.
Характеристики
Технология оптическая
Тип для отражающей поверхности
Вы смотрели
Так же смотрят