Тестер модуля Electroluminescence Spi-EL™ солнечный (встроенный)

Встроенная система контроля
для солнечных модулей

Описание

Серия SPI-EL™ встроенная солнечных тестеров модуля использует electro-
измерения люминесценции (EL) для того чтобы определить microcracks и другие незримые дефекты в модулях. Тестеры используют технология охлаженную near-infrared (NIR) камеру CMOS и CCD к изображению каждый фотоэлемент с разрешениями старт с 24 Mpixel для руководства до 72 Mpixel для польностью автоматического програмного обеспечения обработки изображений.

Модули легко нагружены/расгружены используя стандартные транспортеры. С временами захватывания изображения как быстро как 35 секунд и полных времена испытания меньш чем 55 секунд (включая нагрузка/разгржать), встроенный осмотр EL может удовлетворять линия скорость модуля необходим сегодняшней высокообъемной продукцией.

Системы включают user-friendly интерфейс компьютера для легкой деятельности и предлагают вариант автоматического электрического соединения к модулю для того чтобы позволить польностью автоматизированной деятельности.