Прибор для контроля для полупроводниковой пластины
Прибор для контроля для полупроводниковой пластины
Производитель:
Walter Uhl
Артикул:1200033
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
Микроскоп случая светлый для осмотра вафли
основание гранита в портальной конструкции
пробка света случая с башенкой объектива
waferchuck вакуума
основание гранита в портальной конструкции
пробка света случая с башенкой объектива
waferchuck вакуума
Характеристики
| Другие характеристики | с оптическим микроскопом |
| Применение | для полупроводниковой пластины |
Так же смотрят
Артикул:
Все товары этого бренда
*Цена по запросу
Артикул:
Все товары этого бренда
*Цена по запросу
Артикул:
Все товары этого бренда
*Цена по запросу
