Прибор для контроля CD-SEM CD-SEM CG5000
Производитель:
Hitachi High-Tech Europe GmbH
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
Новый CD-SEM, разработанный для узлов с технологией менее 22 нм и выше.
Усовершенствованная система измерения компакт-дисков CEM CG5000 (HITACHI CD-SEM) обеспечивает высокое разрешение, высокую пропускную способность и воспроизводимость благодаря использованию усовершенствованной электронной оптики, усовершенствованной обработке изображений и новой системы передачи пластин.
CG5000 также способен к усовершенствованной автоматической калибровке, обеспечивая долговременную стабильность.
Кроме того, CD-SEM CG5000 имеет новые области применения и методы измерения, позволяющие решать измерительные задачи при разработке новых процессов и материалов с шагом 1Xnm.
Усовершенствованная система измерения компакт-дисков CEM CG5000 (HITACHI CD-SEM) обеспечивает высокое разрешение, высокую пропускную способность и воспроизводимость благодаря использованию усовершенствованной электронной оптики, усовершенствованной обработке изображений и новой системы передачи пластин.
CG5000 также способен к усовершенствованной автоматической калибровке, обеспечивая долговременную стабильность.
Кроме того, CD-SEM CG5000 имеет новые области применения и методы измерения, позволяющие решать измерительные задачи при разработке новых процессов и материалов с шагом 1Xnm.
Характеристики
Другие характеристики | для измерений, высокое разрешение, с высокой частотой |
Технология | CD-SEM |
Применение | для полупроводниковой пластины |
Вы смотрели
Так же смотрят