OSTEC предлагает модульную конструкцию систем NIOS, которая позволяет конечным пользователям настраивать наномеханический тестер специально под свои нужды и требования. Конфигурации наномеханического тестера NIOS могут состоять из следующих модулей:
- наноиндентификатор широкого диапазона действия
- Оптический микроскоп
- Атомно-силовой микроскоп
- Сканирующий наномеханический тестер
- Измерение электрических свойств
- Датчик боковой силы
- Топографическое изображение на месте
- Отопительная стадия
- Конфокальный оптический профилировщик
NIOS Compact предназначен для исследования механических свойств поверхности малых образцов. В устройстве используются методы сканирующей зондовой микроскопии, инструментальной вдавливания и царапания с диапазоном нагрузок до 100 мН. Данная модель предназначена для исследования физико-механических свойств в субмикронном и нанометрическом линейном масштабе
Все измерения NIOS проводятся в открытой среде (т.е. без использования специальной вакуумной или термической обработки). Приборы NIOS сконструированы с учетом особенностей и функциональных возможностей, что позволяет использовать их для научных исследований и промышленного применения.