Измерение тонких покрытий на ламинатах, металлах и металлизированных подложках

Специально разработан для измерения тонких, прозрачных или слегка пигментированных органических покрытий на алюминиевых или металлизированных пленках, печатных пленках или подложках из фольги.

- Высокопроизводительные измерения - благодаря скорости измерений 7,5 миллисекунды (до 10 раз выше, чем у других ИК-измерительных приборов), SR710S обеспечивает высокую скорость измерений с точностью, позволяющей достигать надежных и прочных измерений на быстро движущемся полотне
- Доказанная эффективность в любой среде - не зависит от изменений технологических и окружающих условий, таких как колебания освещения, температуры, относительной влажности, качества воздуха (пыль, испарения, содержание и т.д.), колебаний полотна и вариаций подложки от партии к партии
- Неядерные технологии - не требует специального лицензирования или защитных ограждений
- Полный контроль и видимость процесса - когда SR710S устанавливается на высокопроизводительные сканеры NDC и интегрируется в систему измерения полотна NDC TDi, эта платформа обеспечивает лучшую в отрасли производительность профилирования полотна для превосходного качества и производительности
- Преимущественная поддержка - все системы поддерживаются выделенной NDC по всему миру организация обслуживания клиентов доступны 24-7 через myNDC облачной службы