Серия профилометров Panasonic UA3P предназначена для измерения асферических линз и пресс-форм, полупроводниковых пластин и любых других прецизионных компонентов, требующих точности нанометрового уровня в диапазоне до 200 мм x 200 мм. Доступны различные модели станков для удовлетворения ваших потребностей в метрологии оптических систем и систем с высоким аспектным отношением.

UA3P-300, UA3P-4 и UA3P-5 предлагают пользователям точность технологии АСМ с диапазоном измерений КИМ. Наш уникальный подход использует технологию атомно-силового зонда в щупе и интерферометрическое позиционирование по оси XYZ на основе гелий-неонового лазера.

Сочетание этой технологии с прочным гранитным основанием позволяет получить надежную метрологическую систему, которая может использоваться на производстве и при этом обеспечивать суммарную погрешность на уровне 0,1um.

ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
UA3P может измерять асферические линзы, зеркала свободной формы и их формы, которые необходимы для цифровой потребительской электроники, такой как мобильные телефоны, DSC, DVD и Blu-ray рекордеры, а также для систем домашней безопасности, оптических коммуникаций и транспортных средств
Сверхточное измерение всего за 3 минуты
Автоматическая генерация программ ЧПУ
Обширная библиотека дополнительного программного обеспечения
Простое управление поддерживает быструю обратную связь с процессом обработки

Внешние размеры (Ш x Г x В) мм - 700 x 780 x 1 500
Масса основного корпуса - 700 кг (другие: 150 кг)
Диапазон измерений (оси X, Y, Z) мм - 30x30x20
Площадь размещения измеряемого объекта (оси X, Y, Z) мм - 100x100x100
Измерительный зонд - AFP
Разрешение - 0,3 нм
Макс. Угол наклона для измерения верхней поверхности - 75º