Оптический профилометр SuperView W1-Pro

Оптический профилометр SuperView W1-Pro

Производитель: Chotest Technology Inc.
Артикул:2525460
Chotest Technology Inc.
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
Оптический 3D профилометр поверхности SuperView W1 - идеальный прибор для субнанометровых измерений различных прецизионных деталей. Основанный на принципе интерференционной технологии белого света, в сочетании с высокоточным модулем сканирования в Z-направлении и алгоритмом 3D-моделирования, он бесконтактно сканирует поверхность объекта, затем создает 3D-изображение поверхности. После обработки и анализа 3D-изображения программное обеспечение XtremeVision получает ряд 2D- и 3D-параметров, отражающих качество поверхности объекта.

SuperView W1 - это удобный в использовании прецизионный оптический прибор с мощными функциями анализа всех видов параметров формы и шероховатости поверхности. Благодаря уникальному источнику света он может измерять различные прецизионные детали как с гладкой, так и с шероховатой поверхностью.

Применение

Прибор используется для измерения и анализа шероховатости поверхности и профиля прецизионных деталей в полупроводниковой промышленности, 3C Electronics, сверхточной обработке, оптической обработке, микро-нано материалах, микро-электро-механических системах.

Измерение и анализ различных изделий, компонентов и материалов, таких как плоскостность, шероховатость, волнистость, внешний вид, дефекты поверхности, истирание, коррозия, зазор, отверстие, ступень, кривизна, деформация и др.
Характеристики
Другие характеристики автоматический, бесконтактный
Конфигурация настольный
Место применения для полупроводника, для промышленности
Технология 3D, оптический
Функция для измерения шероховатости, для измерения шероховатости поверхности, для измерения плоскостности
Так же смотрят