Оптический профилометр SuperView W1-Pro

Оптический профилометр SuperView W1-Pro

Производитель: Chotest Technology Inc.
Артикул:2525460
Chotest Technology Inc.
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
Оптический 3D профилометр поверхности SuperView W1 - идеальный прибор для субнанометровых измерений различных прецизионных деталей. Основанный на принципе интерференционной технологии белого света, в сочетании с высокоточным модулем сканирования в Z-направлении и алгоритмом 3D-моделирования, он бесконтактно сканирует поверхность объекта, затем создает 3D-изображение поверхности. После обработки и анализа 3D-изображения программное обеспечение XtremeVision получает ряд 2D- и 3D-параметров, отражающих качество поверхности объекта.

SuperView W1 - это удобный в использовании прецизионный оптический прибор с мощными функциями анализа всех видов параметров формы и шероховатости поверхности. Благодаря уникальному источнику света он может измерять различные прецизионные детали как с гладкой, так и с шероховатой поверхностью.

Применение

Прибор используется для измерения и анализа шероховатости поверхности и профиля прецизионных деталей в полупроводниковой промышленности, 3C Electronics, сверхточной обработке, оптической обработке, микро-нано материалах, микро-электро-механических системах.

Измерение и анализ различных изделий, компонентов и материалов, таких как плоскостность, шероховатость, волнистость, внешний вид, дефекты поверхности, истирание, коррозия, зазор, отверстие, ступень, кривизна, деформация и др.
Характеристики
Другие характеристики автоматический, бесконтактный
Конфигурация настольный
Место применения для полупроводника, для промышленности
Технология 3D, оптический
Функция для измерения шероховатости, для измерения шероховатости поверхности, для измерения плоскостности
Вы смотрели
Так же смотрят