Система ModuLab® XM MTS последнего поколения разработана с учетом модульности и гибкости, что позволяет использовать ее в широком спектре применений. Предназначен для испытаний материалов, проводимых ModuLab XM:

- I-V (сканирование напряжения с измерением тока - используется для характеристики электронных и диэлектрических материалов)
P-E (поляризация / электрическое поле - используется для проведения испытаний на гистерезис для характеристики ферроэлектрических материалов)
- Высокоскоростной импульс (используется для активации носителей заряда в электронных и диэлектрических материалах)
- Лестничная клетка и плавные бесступенчатые аналоговые сигналы рампы
- Импеданс, вход, диэлектрическая проницаемость / емкость, электрический модуль
- Емкость C-V - напряжение, Mott-Schottky
- Автоматическое определение последовательности во временной области и измерение импеданса/емкости

ModuLab XM MTS способен автоматически выполнять последовательность всех вышеперечисленных методов активации и анализа носителей заряда без изменения соединений образца. Управление температурой также встроено в программное обеспечение через криостаты, печи и зондовые станции.