Измерительная система толщина MT-100 + Zoom70

Измерительная система толщина MT-100 + Zoom70

Производитель: 4H- JENA engineering GmbH
Артикул:2509256
4H- JENA engineering GmbH
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
MT-100-Z70: Малогабаритный измерительный стол в сочетании с оптикой высокого разрешения с зумом

Измерительная рабочая станция MT-100-Z70 сочетает в себе оптическую систему высокого разрешения и эффективную технологию камеры видео-зум микроскопа Z70 с модульной системой измерительного стола MT-100. Устройство, помимо производственных испытаний материалов и изделий, идеально подходит для измерений в направлениях x-, y- и z на слоях и структурах.


Области применения:

измерение высоты в мкм диапазоне (толщина слоев и структур, царапины)
измерение плоских деталей (пластин и масок)
контроль и измерение микро- и макроструктур
анализ материалов и металлографические исследования
инспекции печатных плат (ПП) и металлических шлифовальных зондов

Преимущества:

оптико-механическая модульная система позволяет гибко адаптировать измерительное устройство к конкретным задачам
коаксиальный свет и светодиодная кольцевая подсветка обеспечивают оптимальную освещенность объекта
измерительный стол MT-100 с линейной измерительной системой сделал возможным прецизионное позиционирование и высочайшую точность измерений
программное обеспечение JE.Mess/JE.Control предоставляет широкие возможности для архивирования изображений, документирования, редактирования изображений и разнообразных измерительных функций

Опции:

моторизованные настройки фокусировки и увеличения
выбор объектива определяет диапазон увеличения и рабочее расстояние
измерительный стол с моторизованными осями
диапазон измерений / размеры измерительного стола по желанию заказчика
блок прозрачности
ирисовая диафрагма
поляризационный фильтр
Характеристики
Другие характеристики высокое разрешение, микроскоп
Измеренное изделие деталей, для печатной платы, для полупроводниковых пластин
Технология оптическая, видео
Физическая величина толщина
Так же смотрят