ДВУМЕРНЫЕ СИСТЕМЫ ИЗМЕРЕНИЯ ДВУЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ

Наши системы измерения двулучепреломления серии PA/WPA обеспечивают высокоскоростное измерение двулучепреломления прозрачных и полупрозрачных материалов, таких как линзы и другие прозрачные компоненты, для оценки остаточных напряжений, или прозрачных пленок для оценки фазовой однородности.

В диапазоне от микроскопического до макроскопического (～50 см), поле зрения может быть адаптировано практически к любому измерению FOV. Независимо от объекта исследования, мы уверены, что у нас есть система для любого размера.

Специальное программное обеспечение, поставляемое в комплекте, предоставляет такие возможности, как изменение размера поля зрения и увеличение диапазона измерений для образцов с высокой степенью жесткости. Для облегчения задач анализа данных предусмотрены различные фильтры, такие как шумоподавление, усиление локальных вариаций и т.д., а также возможность конфигурирования и одновременного применения нескольких фильтров. Также доступны функции анализа программного обеспечения для расширения функциональности системы PA/WPA для удовлетворения ваших самых требовательных потребностей в поляризационной визуализации.

ПРИМЕНЕНИЯ

Измерение замедления и ориентации андле в
- Стекло
- ПК и ПММА
- ПВА, СО, ТАК и ПЭТ
- а также в других прозрачных или полупрозрачных материалах

Для образцов с низкой степенью замедления, таких как стекло и многое другое.

Системы позволяют количественно оценить, как распределяется замедление, например, в закаленном стекле или стекле, обработанном лазером. Они помогают понять небольшие различия в условиях и процессах производства и выявить проблемы в производственной цепочке. Системы серии PA также являются отличными инструментами контроля качества.