Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.

Параметрический анализ, быстрый и понятный.
В настоящее время путь к внедрению новейших разработок максимально упрощён. Параметрический анализатор 4200A-SCS вдвое сокращает время от настройки до начала тестирования характеристик, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому добавляется накопленный годами опыт измерений — в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.

•Оборудование для расширенных измерений ВАХ при постоянном токе, ВФХ и импульсных ВАХ
•Исключение затрат времени на подготовку к тестированию за счёт сотен включённых в ПО Clarius тестов, которые адаптируются под требования пользователя
•Автоматическое определение параметров в режиме реального времени, графики данных, аналитические функции

Ёмкости фарадного диапазона можно измерять при помощи новейшего модуля Keithley 4215-CVU, предназначенного для определения ВФХ. За счёт интеграции источника напряжения 1 В переменного тока в лучший в отрасли модуль для измерений ВФХ, прибор 4215-CVU Keithley может измерять ёмкости на частотах от 1 кГц до 10 МГц с минимальным уровнем шумов.