Испытательная система для лабораторий TRA-200

Испытательная система для лабораторий TRA-200

Производитель: EVERFINE Corporation
Артикул:2353528
EVERFINE Corporation
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
TRA-200/300 ПРИВЕЛО ТЕПЛОВОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ СТРУКТУРЫ АНАЛИЗА СИСТЕМЫ

Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа

Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых

Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами.

Основные стандартные образцы
EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем
MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора
SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление
ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды
QB / T 4057-2010 Требования к работе светоизлучающих диодов для общего освещения

Параметр
Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа

Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых

Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами.

Основные стандартные образцы
EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем
MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора
SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление
ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды
Характеристики
Область для лабораторий
Спецификации сверхточная
Форма компактная
Так же смотрят