Испытательная система для лабораторий TRA-200
Производитель:
EVERFINE Corporation
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
TRA-200/300 ПРИВЕЛО ТЕПЛОВОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ СТРУКТУРЫ АНАЛИЗА СИСТЕМЫ
Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа
Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых
Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами.
Основные стандартные образцы
EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем
MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора
SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление
ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды
QB / T 4057-2010 Требования к работе светоизлучающих диодов для общего освещения
Параметр
Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа
Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых
Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами.
Основные стандартные образцы
EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем
MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора
SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление
ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды
Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа
Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых
Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами.
Основные стандартные образцы
EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем
MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора
SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление
ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды
QB / T 4057-2010 Требования к работе светоизлучающих диодов для общего освещения
Параметр
Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа
Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых
Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами.
Основные стандартные образцы
EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем
MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора
SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление
ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды
Характеристики
Область | для лабораторий |
Спецификации | сверхточная |
Форма | компактная |
Так же смотрят