Детектор неполадок с многоэлементными преобразователями OmniScan® X3 64
Детектор неполадок с многоэлементными преобразователями OmniScan® X3 64
Производитель:
Evident - Olympus Scientific Solutions
Артикул:2556572
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
«Портативная» мощность
Дефектоскоп OmniScan X3 64 в проверенном на практике прочном корпусе, с мощными возможностями фокусировки и широкой апертурой, позволяет в полной мере использовать 64-элементные ПФР и 128-элементную апертуру TFM. Используйте его улучшенные характеристики для контроля толстых материалов и материалов с высоким уровнем затухания; расширьте свой потенциал для разработки новых процедур в широком спектре применений.
OmniScan™ X3 — дефектоскоп на фазированных решетках с методом TFM
Прибор, которому можно доверять
OmniScan X3 — полностью усовершенствованный современный дефектоскоп на фазированных решетках. Мощные инструменты, — включая метод общей фокусировки (TFM) и усовершенствованные средства визуализации, подкрепленные высоким качеством изображения, — позволят вам с большей уверенностью выполнить контроль.
Возможность заранее проверить охват луча TFM
Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя.
Инструмент AIM позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, план сканирования.
Дефектоскоп OmniScan X3 64 в проверенном на практике прочном корпусе, с мощными возможностями фокусировки и широкой апертурой, позволяет в полной мере использовать 64-элементные ПФР и 128-элементную апертуру TFM. Используйте его улучшенные характеристики для контроля толстых материалов и материалов с высоким уровнем затухания; расширьте свой потенциал для разработки новых процедур в широком спектре применений.
OmniScan™ X3 — дефектоскоп на фазированных решетках с методом TFM
Прибор, которому можно доверять
OmniScan X3 — полностью усовершенствованный современный дефектоскоп на фазированных решетках. Мощные инструменты, — включая метод общей фокусировки (TFM) и усовершенствованные средства визуализации, подкрепленные высоким качеством изображения, — позволят вам с большей уверенностью выполнить контроль.
Возможность заранее проверить охват луча TFM
Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя.
Инструмент AIM позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, план сканирования.
Характеристики
| Подвижность | переносной |
| Технология | с многоэлементными преобразователями, метод полной фокусировки, FTP |
Так же смотрят
Артикул:
Все товары этого бренда
*Цена по запросу
