3D атомно-зондовый микроскоп с непревзойденной эффективностью трехмерного анализа в субнанометровом масштабе
LEAP 5000 представляет собой ультрасовременный атомно-зондовый микроскоп производства CAMECA, обеспечивающий превосходную эффективность обнаружения в самых разных металлах, полупроводниках и изоляторах: обнаружение на 40 % больше атомов в кубическом нанометре.
Обзор продукта -

LEAP 5000 собирает информацию в наномасштабе из микромасштабного набора данных, и с высокой точностью определяет элементный состав всего за несколько часов, имеет улучшенные пороги точность и обнаружения, увеличенную скорость анализа образца, а также повышенную производительность и максимальную воспроизводимость.

Оптимизация эффективности обнаружения гарантирует беспрецедентную чувствительность
Большая область обзора и однородность обнаружения – непревзойденное трехмерное пространственное разрешение
Отличные возможности обнаружения с попаданием в одну точку для наиболее точных измерений состава
Быстрая и переменная частота импульсов для сверхбыстрого сбора данных
Прочная и эргономичная платформа для повышенной простоты использования и сокращения времени получения результатов
Мониторинг в режиме реального времени для обеспечения данных самого высокого качества при каждом измерении