Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SU8700

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SU8700

Производитель: Hitachi High-Tech Europe GmbH
Артикул:2490356
Hitachi High-Tech Europe GmbH
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов с полевой эмиссией Шоттки сверхвысокого разрешения в многолетней линейке приборов Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную визуализацию, высокий ток зонда, автоматизацию, эффективные рабочие процессы для пользователей с любым уровнем опыта и многое другое.

Сверхвысокое разрешение и аналитические возможности
Эмиттер Шоттки Hitachi обеспечивает получение изображений с ультравысоким разрешением и сверхбыстрый микроанализ при высоком токе зонда.
Возможность получения изображений при напряжении 0,1 кВ без смещения каскада расширяет диапазон применения для чувствительных к лучу образцов. Множество детекторов и опций доступны для наилучшего удовлетворения потребностей любого пользователя.

Улучшенный пользовательский опыт с усовершенствованной автоматизацией
Программное обеспечение "EM Flow Creator" позволяет пользователям настраивать повторяющиеся последовательности операций СЭМ.
Различные функции РЭМ могут быть собраны в окне EM Flow Creator методом перетаскивания, а затем сохранены как рецепт для последующего использования.
После настройки рецепта автоматический сбор данных в заданных условиях может быть выполнен с высокой точностью и повторяемостью.

Новые функции дисплея и интерфейса
Конфигурация с двумя мониторами обеспечивает гибкое и высокоэффективное рабочее пространство.
Отображение и сохранение 6 сигналов одновременно для получения большего объема информации за меньшее время.
Получение информации с высоким разрешением до 40 960 x 30 720 пикселей*

Левое верхнее изображение было получено с FOV >120 мкм. Поле желтого прямоугольника на изображении также показано на правом изображении при увеличении цифрового увеличения.
Даже после цифрового увеличения исходного изображения более чем в 20 раз, структуры органелл были четко видны, и высокое качество сохранялось.
Характеристики
Другие характеристики автоматизированный, сканирующий, с переменным давлением, ультравысокое разрешение
Источник электронов с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)
Конфигурация напольный
Пространственное разрешение 0,8 nm, 0,9 nm
Тип с полевой эмиссией катода (FESEM)
Тип детектора вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов, с энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения
Увеличение МАКС.: 2 000 000 unit МИН.: 20 unit
Применение для анализов
Так же смотрят