Микроскоп FTIR LUMOS II
Производитель:
Bruker Optics GmbH & Co. KG
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
LUMOS II обеспечивает превосходное качество визуальных и спектральных данных при полной автоматизации всех режимов измерения: передачи, отражения и ATR. Для новичков и специалистов FTIR LUMOS II является лучшим решением для инфракрасной микроскопии.
Эксклюзивная технология детектора Focal Plane Array (FPA) от Bruker позволяет получать детальное изображение с максимальной скоростью. Это позволяет в полной мере использовать широкие возможности ИК-Фурье микроскопии
Программное обеспечение OPUS IR поможет вам всегда, когда вам это необходимо, и позволит вам легко скользить по экрану благодаря измерениям, оценкам и отчетам.
Ваши преимущества:
- Чрезвычайно быстрая ИК-Фурье-изображение (FT-IR)
- Высокое спектральное качество и разрешение
- Блестящие визуальные изображения и огромное поле зрения
- Полностью автоматизированный ИК-Фурье микроскоп
- Интегрированный, пьезо-управляемый ATR кристалл
- Измерение и оценка с помощью программного обеспечения
- Автоматическое измерение в трансмиссии, отражении и ATR
- Большое пространство между ступенью образца и объективом
- Анализ образцов высотой до 40 мм
Эксклюзивная технология детектора Focal Plane Array (FPA) от Bruker позволяет получать детальное изображение с максимальной скоростью. Это позволяет в полной мере использовать широкие возможности ИК-Фурье микроскопии
Программное обеспечение OPUS IR поможет вам всегда, когда вам это необходимо, и позволит вам легко скользить по экрану благодаря измерениям, оценкам и отчетам.
Ваши преимущества:
- Чрезвычайно быстрая ИК-Фурье-изображение (FT-IR)
- Высокое спектральное качество и разрешение
- Блестящие визуальные изображения и огромное поле зрения
- Полностью автоматизированный ИК-Фурье микроскоп
- Интегрированный, пьезо-управляемый ATR кристалл
- Измерение и оценка с помощью программного обеспечения
- Автоматическое измерение в трансмиссии, отражении и ATR
- Большое пространство между ступенью образца и объективом
- Анализ образцов высотой до 40 мм
Характеристики
Другие характеристики | высокое разрешение, автоматизированный, механизированный |
Конфигурация | компактный |
Метод наблюдения | спектральный |
Тип | FTIR |
Применение | для лабораторий, промышленный, для анализа окружающей среды, для фармацевтической промышленности |
Так же смотрят