Подготовка образцов для получения изображений TEM и STEM или атомно-зондовой томографии. Простота в использовании с усовершенствованной автоматизацией. Возможность высококачественной подповерхностной 3D-характеристики.

FIB-пробоподготовка
Новая система Thermo Scientific Helios 5 DualBeam основана на высокопроизводительных возможностях визуализации и анализа ведущего в отрасли семейства Helios DualBeam. Он тщательно разработан для удовлетворения потребностей исследователей и инженеров в области материаловедения для широкого спектра задач сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) - даже для самых сложных образцов.

Helios 5 DualBeam переопределяет стандарты в области получения изображений высокого разрешения с высоким контрастом материалов; быстрой, простой и точной высококачественной подготовки образцов для (S)TEM визуализации и атомно-зондовой томографии (APT), а также высококачественной подповерхностной и 3D характеризации. Основываясь на проверенных возможностях семейства Helios DualBeam, дополнительные усовершенствования нового Helios 5 DualBeam были разработаны для того, чтобы обеспечить оптимизацию системы для различных ручных или автоматизированных рабочих процессов. Эти усовершенствования включают:

-Большая простота в использовании: Helios 5 DualBeam является наиболее доступной системой DualBeam для пользователей с любым уровнем опыта. Обучение оператора может быть сокращено с нескольких месяцев до нескольких дней, а конструкция системы помогает всем операторам достичь последовательных, повторяемых результатов при выполнении широкого спектра передовых задач.
-Увеличение производительности: Расширенные возможности автоматизации, повышенная прочность и улучшение стабильности в Helios 5 DualBeam и программном обеспечении Thermo Scientific AutoTEM 5 могут значительно увеличить пропускную способность пробоподготовки, позволяя работать без присмотра и даже в ночное время.