Атомно-силовая микроскоп Dimension Icon®

Атомно-силовая микроскоп Dimension Icon®

Производитель: Bruker Nano Surfaces
Артикул:1234645
Bruker Nano Surfaces
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
Dimension Icon® от Bruker обеспечивает высочайший уровень производительности, функциональности и доступности АСМ для исследователей наноразмеров в науке и промышленности. Основанная на наиболее используемой в мире платформе АСМ для больших образцов, она является кульминацией десятилетий технологических инноваций, отзывов клиентов и лучшей в отрасли гибкости применения. Система была разработана сверху донизу для обеспечения революционно низкого дрейфа и низкого уровня шума, что позволяет пользователям получать изображения без артефактов за несколько минут, а не часов.

Высочайшая производительность
сканер наконечника
Обеспечивает непревзойденное разрешение больших образцов при уровне шума в открытом контуре, сниженном шумовом дне и скорости дрейфа <200 пм.
Простота
производительность
Обеспечивает удивительно простую настройку, интуитивно понятный рабочий процесс и быстрое получение результатов, что позволяет всегда получать данные высокого качества для публикации.
Универсальный
платформа с открытым доступом
Позволяет проводить самые разнообразные эксперименты, режимы, методики и полуавтоматические измерения.

Высочайшая производительность и разрешение
Превосходное разрешение Dimension Icon в сочетании с запатентованными алгоритмами электронного сканирования Bruker обеспечивают пользователю значительное улучшение скорости и качества измерений. Прибор Icon является кульминацией ведущей в отрасли технологии АСМ-сканирования наконечника Bruker, включающей термокомпенсирующие датчики положения для обеспечения уровня шума в суб-ангстремном диапазоне по оси Z и ангстремном по оси XY. Это исключительная производительность для системы с большим образцом и 90-микронным диапазоном сканирования, превосходящая уровни шума в открытом контуре АСМ высокого разрешения.
Характеристики
Другие характеристики высокое разрешение, автоматизированный, высокая скорость, на прочность методом наноиндентирования, для пробы царапаньем
Конфигурация настольный
Тип атомно-силовая
Применение для измерений, промышленный, для анализа материалов
Так же смотрят