AttoAFM III атомный микроскоп силы конструированный особенно для применений на низкой и ультра низкой температуре. Должный к не-оптически обнаружению силы ножниц основанному на камертоне, эта система идеально одета для применений где входной сигнал света проблемн. Типичное применение микроскопа attoAFM III просматривает микроскопию ворот (SGM) на структурах полупроводника. Этот микроскоп совместим с имеющимися на рынке подсказками камертона, и доступен с опционным интерферометрическим кодировщиком для сканирования короткозамкнутого витка.

AttoAFM III использует датчик камертона как механизм обнаружения для сил подсказк-образца, позволяющ высокому разрешению внеконтактному режиму отображая без потребности для всех оптически методов обнаружения отклонения. Подсказка AFM склеена на один prong небольшого камертона кварца, который после этого возбужден для того чтобы осциллировать в горизонтальном направлении. Уменшение в амплитуде должной к взаимодействию подсказк-образца когда причаливать образцу будет проконтролирован и/или будет использован как сигнал обратной связи. Разрешение силы этого метода типично 0,1 pN.