Обладая передовыми технологиями детектирования на основе полупроводниковых детекторов, специально разработанных для эмиссионной спектроскопии, ОНЧ-спектрометр VeOS обеспечивает универсальный, гибкий и быстрый анализ всех распространенных металлических материалов. Аналитический спектр также включает в себя точный анализ коротковолновых элементов, таких как азот или низкоуглеродные элементы. ПреимуществаКомплексное и гибкое решение всех аналитических задачЛегко расширяемые функцииНовейшая, специально разработанная технология детектированияExcellent с точки зрения предела обнаружения и точности, СтабильностьНадежная конструкция для использования в тяжелых условиях эксплуатацииВсестороннее многоматричное применение без каких-либо ограничений при выборе элементов для анализаТочное обнаружение азота и следов углерода (ULC)OBLF VeOS - первый искровой спектрометр с системой полупроводниковых детекторов, аналитические характеристики которой, включая спектральное разрешение, необходимые для лабораторных спектрометров, ничуть не хуже установленных фотограмм. Эта принципиально новая технология фотоприемника была специально разработана для искровой эмиссионной спектроскопии и гарантирует отличные результаты во всем требуемом диапазоне длин волн от 130 до 800 нм. Конструкция светочувствительных детекторов, поверхность которых в 100 раз более чувствительна к свету, чем у обычных систем, была специально адаптирована к требованиям эмиссионной спектроскопии.