Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с автоматизированным анализом поверхности и возможностью использования нескольких методик.

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (XPS) Thermo Scientific Nexsa G2 обеспечивает полностью автоматизированный высокопроизводительный анализ поверхности, предоставляя данные для продвижения исследований и разработок или решения производственных проблем. Интеграция XPS со спектроскопией рассеяния ионов (ISS), УФ фотоэлектронной спектроскопией (UPS), спектроскопией потери энергии отраженных электронов (REELS) и спектроскопией комбинационного рассеяния света позволяет проводить настоящий корреляционный анализ. Система теперь включает опции нагрева образца и смещения образца для расширения спектра возможных экспериментов. Система анализа поверхности Nexsa G2 раскрывает потенциал для достижений в материаловедении, микроэлектронике, разработке нанотехнологий и многих других областях.

Основные характеристики

Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения
Новый рентгеновский монохроматор с низким энергопотреблением позволяет выбирать область анализа от 10 мкм до 400 мкм с шагом 5 мкм, обеспечивая сбор данных с интересующего объекта при максимальном увеличении сигнала.

Оптимизированная электронная оптика
Высокоэффективная электронная линза, полусферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную детектируемость и быстрый сбор данных.

Просмотр образцов
С помощью запатентованной оптической системы просмотра Nexsa XPS System и XPS SnapMap, которая помогает быстро определить интересующие вас области с помощью полностью сфокусированного XPS-изображения, вы можете сфокусировать образец.