Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр для высокопроизводительного анализа поверхности.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр K-Alpha
Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (XPS) Thermo Scientific K-Alpha представляет собой новый подход к анализу поверхности. Ориентированная на получение высококачественных результатов с использованием оптимизированного рабочего процесса, система K-Alpha XPS делает работу с XPS простой и интуитивно понятной, без ущерба для производительности и возможностей.

Современная производительность, снижение стоимости владения, простота использования и высокая пропускная способность образцов делают систему K-Alpha XPS идеальным решением для многопользовательской среды. Система K-Alpha XPS обеспечивает доступ к анализу поверхности для большего числа исследователей во всем мире.

Особенности рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K-Alpha

Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения
Рентгеновский монохроматор позволяет выбирать область анализа от 50 мкм до 400 мкм с шагом 5 мкм, подстраивая ее под интересующий объект для максимизации сигнала.

Оптимизированная электронная оптика
Высокоэффективная электронная линза, полусферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную детектируемость и быстрый сбор данных.

Просмотр образцов
С помощью запатентованной оптической системы просмотра K-Alpha XPS System и карты XPS SnapMap, которая помогает быстро определить интересующие вас области, можно сфокусировать характеристики образца.

Анализ изоляторов
Запатентованный двухлучевой источник наводнения объединяет низкоэнергетические ионные пучки с электронами очень низкой энергии (менее 1 эВ) для предотвращения зарядки образца во время анализа, что в большинстве случаев устраняет необходимость в привязке к заряду.

Глубинное профилирование
Выйдите за пределы поверхности с помощью источника ионов EX06. Автоматизированная оптимизация источника и обработка газа обеспечивают превосходную производительность и воспроизводимость эксперимента.