Система измерения ODPL использует интегрирующую сферу для измерения спектра всенаправленной фотолюминесценции и определения эмиссионной эффективности образцов. Этот процесс является неразрушающим и бесконтактным, и может мгновенно рассчитать IQE (внутреннюю квантовую эффективность). IQE необходим для оценки качества монокристаллов GaN, которые привлекают внимание как материалы для силовых устройств. Он также необходим для оценки качества кристаллов перовскита, которые, как ожидается, будут полезны для повышения эффективности производства солнечной энергии и светодиодов.

Номер типа : C15993-01
Диапазон длин волн измерения PL : от 300 нм до 950 нм
Многоканальный спектроскоп : Фотодетектор : BT-CCD линейный датчик изображения
Диапазон длин волн измерения : от 200 нм до 950 нм
Разрешение по длине волны : < 2 нм
Количество каналов фоточувствительного устройства : 1024 ч
Температура охлаждения устройства : -15 ˚C
Разрешение АД : 16 бит
Оптическая схема спектроскопа : Тип Черни-Тернера
Интегрирующая сфера : Материал : Spectralon
Размер : 3,3 дюйма
Держатель образца : Размер : Подложка (от 6 мм × 6 мм × 1 мм до 17 мм × 17 мм × 1 мм)
Можно установить A10095-01 или A10095-03.
Осветительная часть: Источники света для подсветки: белый светодиод
Камера наблюдения : Цветная CMOS камера
Размер поля зрения : Прибл. ϕ6 мм
Программное обеспечение Измерение / анализ : Измерение EQE
Расчет IQE
Измерение коэффициента поглощения
Измерение спектра PL
Размеры / вес : 725 мм (Ш) × 417 мм (В) × 380 мм (Г) / Прибл. 39,5 кг