Дифрактометр с рентгеновским излучением ARL™ EQUINOX 100

Дифрактометр с рентгеновским излучением ARL™ EQUINOX 100

Производитель: Thermo Fisher Scientific
Артикул:2382394
Thermo Fisher Scientific
*Цена по запросу
Отправить заявку

Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:

info@zipmachine.ru

Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.

Описание
Получите специализированный рентгеновский прибор, предназначенный для контроля качества/контроля качества, для научных целей и для повседневных задач рентгеновской дифракции, с компактным, доступным по цене рентгеновским дифрактометром Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX 100. Занимая треть места традиционного дифрактометра, этот автономный, переносной настольный прибор обеспечивает подлинную гибкость. Внешнее водяное охлаждение не требуется, и он подключается к стандартной электрической розетке. Этот прибор упрощает работу без ущерба для скорости и производительности. Благодаря специальному режиму обнаружения в реальном времени, измерения завершаются за несколько секунд

Уникальный изогнутый детектор ARL EQUINOX измеряет все дифракционные пики одновременно в широком угловом диапазоне. На большинстве образцов анализ завершается всего за несколько минут, независимо от требований к разрешающей способности.
Измерение в реальном времени при температуре более 110° 2 Ø
Не требуется сканирование
Микрофокусный источник рентгеновского излучения с оптикой высокой интенсивности
Отсутствие внешнего водяного охлаждения и подключения к стандартному источнику питания
Многие держатели образцов доступны для: порошков в режиме передачи и отражения, навалов, тонких пленок, исследований на месте, а также для автоматического анализа благодаря специальному устройству смены образцов
Простота использования и установки в различных условиях: лаборатория, передвижная лаборатория, фургон
Лечение и применение: Идентификация фаз, количественное определение, степень кристалличности, параметры ячеек, размер кристаллита, деформация решетки, кристаллическая структура, анализ Ритвельда, переходная фаза, анализ тонких пленок (GIXRD, XRR)
Домены применения: Материаловедение, Минералогия, Геология, Наноматериалы, Химия, Фармацевтика, Энергетические материалы, Каталоги, Керамика, Полимеры, Металлургия, Полупроводники, Горная промышленность (цемент, ...),
Характеристики
Тип с рентгеновским излучением
Применение для лабораторий
Так же смотрят