Рентгеновский дифракционный прибор ADX-2500

Введение
Рентгеновская дифракция ADX-2500 (XRD) предназначена для применения в измерениях микроструктуры, испытаниях и углубленных исследованиях. С различными принадлежностями и соответствующим программным обеспечением для контроля и расчета ADX-2500 XRD является дифракционной системой, соответствующей практическим требованиям во многих областях.

Рентгеновский дифрактометр ADX-2500 обеспечивает анализ структуры монокристаллического, поликристаллического и аморфного образца. Рентгеновская дифракция ADX-2500 позволяет проводить: фазовый качественный и количественный анализ (РИР, внутренняя калибровка эталона, внешняя калибровка эталона, критерий добавки), индексирование образца, определение и уточнение элементарных ячеек, определение размера и деформации кристаллитов, подгонку профиля и уточнение структуры, определение остаточных напряжений, анализ текстуры (ODF выражает трехмерное полюсное число), оценку кристалличности по областям пиков, тонкопленочный анализ и другие.

Особенности
- Идеальная интеграция аппаратного и программного обеспечения, позволяет ADX-2500 рентгеновской дифракции выполнять различные виды анализа для исследователей из различных областей;
- Высокая точность измерения угла дифракции позволяет ADX-2500 рентгеновской дифракции получать более точные данные;
- Высокая стабильность системы управления рентгеновским генератором обеспечивает превосходную точность измерений;
- Простая и эффективная конструкция делает ADX-2500 XRD удобным в эксплуатации и простым в использовании.