Ротационный электромагнит
Производитель:
HTS-110
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
Магнит проекционного поля HTS-110 предназначен для различных приложений, в которых необходим неограниченный доступ к образцу, находящемуся над поверхностью магнита. Сочетание пикового поля более 2,5 тесла над полюсным наконечником и компактности позволяет легко интегрировать этот магнит в сложные системы, такие как системы магнитного зондирования, сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ).
Характеристики
- Компактный
- Без криогена
- Пиковое поле > 2,5 относительно полюсного наконечника
- Время нарастания менее 1 минуты
- Отличный доступ к образцу
- Большая площадь однородного поля в радиальном направлении
- Низкая вибрация
- Образец может быть установлен независимо от магнита, что обеспечивает отсутствие вибрационной связи
Области применения
- Магнитные измерительные системы
- Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ)
- Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)
- Атомно-силовой микроскоп (AFM)
- Магнитно-силовой микроскоп (MFM)
- Магнитооптические измерения
- Измерение на основе эффекта Холла
Опции
- Внешний полюс для перефокусировки магнитного поля в экранирующую среду образца
Инструмент для исследований и разработок
- Спинтроника и магнитная оперативная память
- Магниторезистивные продукты для чтения/записи
Характеристики
- Компактный
- Без криогена
- Пиковое поле > 2,5 относительно полюсного наконечника
- Время нарастания менее 1 минуты
- Отличный доступ к образцу
- Большая площадь однородного поля в радиальном направлении
- Низкая вибрация
- Образец может быть установлен независимо от магнита, что обеспечивает отсутствие вибрационной связи
Области применения
- Магнитные измерительные системы
- Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ)
- Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)
- Атомно-силовой микроскоп (AFM)
- Магнитно-силовой микроскоп (MFM)
- Магнитооптические измерения
- Измерение на основе эффекта Холла
Опции
- Внешний полюс для перефокусировки магнитного поля в экранирующую среду образца
Инструмент для исследований и разработок
- Спинтроника и магнитная оперативная память
- Магниторезистивные продукты для чтения/записи
Характеристики
Другие характеристики | для микроскопии |
Тип | ротационный |
Вы смотрели
Так же смотрят