Прибор для измерения плоскостности Tropel® UltraFlat™ 200
Производитель:
CORNING
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
Масочная система Tropel® UltraFlatTM 200 Mask System была разработана специально для индустрии фотомасок. Он обеспечивает наименьшую погрешность измерений для постоянно ужесточающихся требований к плоскостности маски. Особенности термоусадочных устройств требуют не только более плоских пластин, но и более плоских масок.
Система UltraFlatTM используется для измерения плоскостности фотозаготовок и фотомасок на всех этапах производства и использования, включая полировку подложек, нанесение покрытий и узоров для анализа напряжения пленки и проверки.
В системе UltraFlatTM используется интерферометрия с почти нормальным падением частоты, твердая породная конструкция, самые современные оптические технологии изготовления и известное программное обеспечение Tropel для анализа фазовых сдвигов, обеспечивающее точность измерений 20 нанометров.
Эта система является Национальным институтом стандартов и технологий (НИСТ), отслеживаемым и обеспечивающим измерения в соответствии со стандартами SEMI. Также доступна автоматическая конфигурация обработки и измерения фотомаски.
Система UltraFlatTM используется для измерения плоскостности фотозаготовок и фотомасок на всех этапах производства и использования, включая полировку подложек, нанесение покрытий и узоров для анализа напряжения пленки и проверки.
В системе UltraFlatTM используется интерферометрия с почти нормальным падением частоты, твердая породная конструкция, самые современные оптические технологии изготовления и известное программное обеспечение Tropel для анализа фазовых сдвигов, обеспечивающее точность измерений 20 нанометров.
Эта система является Национальным институтом стандартов и технологий (НИСТ), отслеживаемым и обеспечивающим измерения в соответствии со стандартами SEMI. Также доступна автоматическая конфигурация обработки и измерения фотомаски.
Характеристики
Измеряемая величина | плоскостности |
Технология | оптический |
Так же смотрят