Объектив для камеры для обнаружения MVSW series
Производитель:
Wavelength Opto-Electronic(Nanjing)Co.,Ltd
*Цена по запросу
Мы принимаем заявки на поставку оборудования круглосуточно и только онлайн, через форму обратной связи или по электронной почте:
info@zipmachine.ru Связаться с менеджером для консультации вы можете по телефону: +7 (800) 302-30-80 в будние дни с 09.00 до 18.00.Описание
Объективы ИК-изображения предназначены для использования с датчиками InGaAs, передающими от 900 до 1700 нм. Приложения включают проверку солнечных батарей, биомедицинскую визуализацию, идентификацию пластиковых материалов в перерабатывающей промышленности, обнаружение влаги во фруктах, визуализацию с помощью кремния и другие ИК-приложения.
Длина волны: 900-1700nm
Разрешение (lp / мм): 40, 50, 60 и 100
Формат: 2/3 дюйма, 1 дюйм и 4/3 дюйма
Рабочее расстояние: 0.15 (до 0.5) мм - ∞
Установить: C & M42x1
Машинное зрение
Сканирование зрения
Длина волны: 900-1700nm
Разрешение (lp / мм): 40, 50, 60 и 100
Формат: 2/3 дюйма, 1 дюйм и 4/3 дюйма
Рабочее расстояние: 0.15 (до 0.5) мм - ∞
Установить: C & M42x1
Машинное зрение
Сканирование зрения
Характеристики
Другие характеристики | ИК |
Техническое применение | машинного зрения, для контроля, для обнаружения, биомедицинский |
Фокусное расстояние | МИН.: 8,5 mm (0,33 in) МАКС.: 50 mm (1,97 in) |
Вы смотрели

Артикул:
571188
Все товары этого бренда
Centec Gesellschaft für Labor- und Prozessmesstechnik mbH
*Цена по запросу
Так же смотрят